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龙图腾网获悉中国人民解放军海军工程大学申请的专利基于汉明重量的故障攻击的能力测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116388959B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310355079.9，技术领域涉及：H04L9/00；该发明授权基于汉明重量的故障攻击的能力测试方法及系统是由吴童;周大伟;欧庆于设计研发完成，并于2023-04-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于汉明重量的故障攻击的能力测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及设备测试技术领域，尤其涉及基于汉明重量的故障攻击的能力测试方法及系统，包括故障响应分类，故障泄漏函数建立，有效时间攻击窗口选取，选取电压毛刺进行故障注入攻击；有效故障注入参数区间选取，在上述时间窗口内，注入大量故障；根据时间窗口内各切片的响应分布，选取其中任意一组合适的故障参数，通过分析故障信息以减少目标设备未知密钥的熵。本发明基于汉明重量的故障概率把握了故障的本质，较为准确地建立泄漏模型，对数据要求低，容错能力强，数据量相比现有模型大大降低，有较好的实用性，解决了现有的泄漏模型大都存在一定的局限性，无法同时兼顾对数据的要求、数据量、容错能力以及攻击效率的问题。

本发明授权基于汉明重量的故障攻击的能力测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于汉明重量的故障攻击的能力测试方法，其特征在于：包括如下步骤： S1、故障响应统计，将故障注入目标设备，区分“损坏”响应和其他响应，统计每个时间点的设备故障概率； S2、故障泄漏函数建立，所有数值以相同的概率出现； 单字节数据的汉明重量服从二项分布，均匀分布的8比特数据的汉明重量的概率分布，汉明重量为0和8的数据出现的概率最小，汉明重量为4的数据出现的概率最大； 单比特0到1转换的概率为p 0，1到0转换的概率为p 1，则汉明重量HW为i，0≤i≤8的单字节由于比特翻转发生故障的概率为： ； S3、有效时间攻击窗口选取，选取电压毛刺进行故障注入攻击； S4、有效故障注入参数区间选取，在上述时间攻击窗口内，选择从0V到毛刺电平极值-6V的电压范围，以及从数百纳秒到数千纳秒的故障长度，注入大量故障； 缩小参数范围，直到时间攻击窗口每个时间切片内的响应结果都有50%的损坏和50%的非损坏的近似混合； 毛刺电压、长度的区间长度、步进长度、每个时间切片的攻击次数均会对有效区间的选取产生影响，选取其中任意一组合适的故障注入参数实施攻击。

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