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龙图腾网获悉东华大学申请的专利一种快响应半导体封装测试车间智能调度方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117434902B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311639680.7，技术领域涉及：G05B19/418；该发明授权一种快响应半导体封装测试车间智能调度方法及系统是由张洁;王洪;吴立辉;陈达设计研发完成，并于2023-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种快响应半导体封装测试车间智能调度方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种快响应半导体封装测试车间智能调度方法及系统，通过GUI模块将车间运行数据传输给瓶颈识别模块；瓶颈识别模块通过“缓冲‑瓶颈指数”瓶颈识别方法识别出所有瓶颈工序；GUI模块与瓶颈识别模块分别将车间调度数据与瓶颈工序识别结果传输给调度模块；智能调度子模块建立半导体封装测试车间瓶颈工序调度模型，并将瓶颈工序调度方案输入给规则调度子模块；规则调度子模块生成全局调度方案，并将其传输给GUI模块，安排生产。解决了半导体封装测试工厂多聚焦于某一道工序的调度工作存在工作冗余、效率低下的问题，能用于半导体封装测试车间调度，能提高车间生产效率。能够缓解与克服半导体封装测试车间出现的“瓶颈漂移”现象，提高生产效益。

本发明授权一种快响应半导体封装测试车间智能调度方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种快响应半导体封装测试车间智能调度方法，其特征在于，包括图形用户界面GUI模块、瓶颈识别模块、调度模块三部分模块；调度模块包括智能调度子模块与规则调度子模块，通过这些模块完成以下步骤： 步骤1：用户通过GUI模块将车间运行数据传输给瓶颈识别模块； 步骤2：瓶颈识别模块通过“缓冲-瓶颈指数”瓶颈识别方法识别出所有瓶颈工序； 步骤2的具体操作为： 步骤2.1：判断工序s缓冲区是否发生在制品堆积，s∈1…S,其中S为总工序数，若是则该工序为瓶颈工序，进入步骤2.3，否则进入步骤2.2； 步骤2.2：利用公式1与公式2计算各工序的瓶颈指数，判断该工序是否为瓶颈指数最高的工序，若是，进入步骤2.3，否则，进入步骤2.4； cs＝Ts-Fst2 其中IBN为瓶颈指数，wt,wb,wq分别为工序生产产品数量、工序缓冲区和产品质量对瓶颈程度的影响权重且满足wt+wb+wq＝1，cs和ls分别为生产能力与生产负载，Ts为假定可用处理能力，Fst为工序s的生产能力因实际生产条件的变化而变化的数量，和分别为缓冲区最大可承载数量与缓冲区新增产品数量，为质量保证能力qac对瓶颈程度的影响函数，qac是质量能力和质量要求的综合反映； 步骤2.3：记录该工序为瓶颈工序，进入步骤2.5； 步骤2.4：记录该工序为非瓶颈工序，进入步骤2.5； 步骤2.5：判断该工序是否为最后一道工序，若是进入步骤2.6，否则，进入步骤2.1； 步骤2.6：结束判断，输出全部瓶颈工序给调度模块； 步骤3：GUI模块与瓶颈识别模块分别将车间调度数据与瓶颈工序识别结果传输给调度模块； 步骤4：智能调度子模块建立半导体封装测试车间瓶颈工序调度模型，利用改进人工蜂鸟算法IAHA进行瓶颈工序调度，并将得到的瓶颈工序调度方案输入给规则调度子模块； 步骤5：根据规则库，用户提前为各工序选择规则，结合智能调度子模块求解得到的瓶颈工序调度方案，规则调度子模块生成全局调度方案，并将其传输给GUI模块，安排生产。

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