中国科学院合肥物质科学研究院臧庆获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利具有反射保护的多激光光路自适应准直控制系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120032926B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510499216.5,技术领域涉及:G21B1/23;该发明授权具有反射保护的多激光光路自适应准直控制系统及方法是由臧庆;朱元秀设计研发完成,并于2025-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本具有反射保护的多激光光路自适应准直控制系统及方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种具有反射保护的多激光光路自适应准直控制系统及方法,涉及等离子体诊断领域,包括:对光路系统进行调整;第一图像采集器在第一采样位置处对采样光斑进行监测并采样;第二图像采集器在第二采样位置处对采样光斑进行监测并采样;计算机分别对第一图像采集器和第二图像采集器的采样光斑的形状特征和位置特征进行识别、记录和标号;采用多光斑匹配算法,用于处理第一图像采集器和第二图像采集器实时采集的光斑图像并对压电陶瓷镜架模块组进行反馈调整。本发明能够通过结合双图像采集器光斑监测系统,实时监测多光路的位置,通过多光斑匹配算法精确调节反射镜角度,使光束在多次反射过程中始终保持准直。
本发明授权具有反射保护的多激光光路自适应准直控制系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种具有反射保护的多激光光路自适应准直控制方法,其特征在于,包括: S1.对光路系统进行调整;第一图像采集器在第一采样位置处对采样光斑进行监测并采样;第二图像采集器在第二采样位置处对采样光斑进行监测并采样;计算机分别对第一图像采集器和第二图像采集器的采样光斑的形状特征和位置特征进行识别、记录和标号; S2.采用多光斑匹配算法,用于处理第一图像采集器和第二图像采集器实时采集的光斑图像并对压电陶瓷镜架模块组进行反馈调整;多光斑匹配算法以图像采集器靶面中心为原始坐标点,建立坐标系,该坐标系的X轴和Y轴分别设置为图像采集器靶面的水平和垂直方向,对于光斑特征提取,计算每个光斑的质心坐标,; S1具体包括: S1.1.激光器输出线偏振激光经过偏振片时,P光透射至普克尔盒,S光反射至光电探测器,光电探测器将接收的光信号转换为脉冲电信号,输出给高压开关,驱动高压开关的工作,高压开关根据接收到的触发信号快速提供高压,激活普克尔盒; S1.2.普克尔盒被激活后,入射的P光被转换为S光,并透射至第一平行平板;随后,S光被安装在第一压电陶瓷镜架模块上的第二平面反射镜反射至安装在第二压电陶瓷镜架模块上的第三平面反射镜,经第三平面反射镜反射后透射过第一平行平板,再被第二平凹反射镜反射; S1.3.被第二平凹反射镜反射后的光再依次经过第二平行平板、第三平面反射镜、第二平面反射镜、第一平行平板和普克尔盒,并最终被偏振片反射至第一平凹反射镜,光束在第一平凹反射镜反射后再到达偏振片,经偏振片反射和透射至普克尔盒,如此往复,在第一平凹反射镜和第二平凹反射镜之间形成多次来回反射的光路; S1.4.在第一采样位置,所有从普克尔盒透射至第一平行平板的激光光束中,均有部分被第一平行平板反射到第一平面反射镜;随后,这部分光经第一平面反射镜反射后透射过第一平行平板,并由第一凸透镜聚焦至第一图像采集器,形成多个采样光斑;同时,所有被第二平面反射镜反射至第一平行平板的激光光束中,均有部分被第一平行平板反射至第一凸透镜,并进一步由第一凸透镜聚焦至第一图像采集器,形成多个采样光斑;第一图像采集器对这些采样光斑进行监测和数据采集; S1.5.在第二采样位置,所有从第二平凹反射镜透射至第二平行平板的激光光束中,均有部分被第二平行平板反射到第四平面反射镜;随后,这部分光经第四平面反射镜反射后透射过第二平行平板,并由第二凸透镜聚焦至第二图像采集器,形成多个采样光斑;同时,所有被第三平面反射镜反射至第二平行平板的激光光束中,也有部分被第二平行平板反射至第二凸透镜,并进一步由第二凸透镜聚焦至第二图像采集器,形成多个采样光斑;第二图像采集器对这些采样光斑进行监测和数据采集。
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