精芯智能装备(苏州)有限公司谢世高获国家专利权
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龙图腾网获悉精芯智能装备(苏州)有限公司申请的专利晶圆预对位方法和装置、电子设备、存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114372965B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111639631.4,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权晶圆预对位方法和装置、电子设备、存储介质是由谢世高;马海威;王玮;盛宇;陶靖飞设计研发完成,并于2021-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶圆预对位方法和装置、电子设备、存储介质在说明书摘要公布了:本公开实施例提供晶圆预对位方法和装置、电子设备、存储介质,涉及集成电路测试设备技术领域。该晶圆预对位方法,包括:获取通过面阵相机采集到的目标晶圆的至少两个晶圆图像;对晶圆图像进行缺口检测处理,得到缺口位置信息;对晶圆图像进行晶圆位置偏差计算处理,得到晶圆位置偏差信息;根据缺口位置信息、晶圆位置偏差信息对目标晶圆进行预对位处理,通过本公开实施例提供的技术方案可以提高晶圆测试的效率。
本发明授权晶圆预对位方法和装置、电子设备、存储介质在权利要求书中公布了:1.一种晶圆预对位方法,其特征在于,包括: 获取通过面阵相机采集到的目标晶圆的至少两个晶圆图像; 对所述晶圆图像进行缺口检测处理,得到缺口位置信息; 对所述晶圆图像进行晶圆位置偏差计算处理,得到晶圆位置偏差信息; 根据所述缺口位置信息、所述晶圆位置偏差信息对所述目标晶圆进行预对位处理; 所述对所述晶圆图像进行缺口检测处理,得到缺口位置信息,包括:对所述晶圆图像进行缺口图像识别处理,得到目标图像;对所述目标图像进行缺口位置计算处理,得到所述缺口位置信息;其中,所述目标图像的数量至少为一张,当所述目标图像只有一张时,则缺口轮廓的中心点坐标为所述缺口位置信息,当所述目标图像有两张或以上时,则分别计算出每张所述目标图像中缺口的位置,再求平均值,得到所述缺口位置信息; 所述对所述晶圆图像进行缺口图像识别处理,得到目标图像,包括:对所述晶圆图像进行缺口图像识别处理,得到包含所述缺口轮廓的所述晶圆图像;将所述包含缺口轮廓的所述晶圆图像作为所述目标图像; 所述对所述目标图像进行缺口位置计算处理,得到所述缺口位置信息,包括:获取所述目标图像的第一角度信息;所述第一角度信息为包含缺口轮廓的所述晶圆图像的拍摄角度,每个所述晶圆图像对应一个所述拍摄角度;获取所述目标图像的第二角度信息;所述第二角度信息为所述缺口轮廓在所述目标图像中的角度;对所述第一角度信息、所述第二角度信息进行综合分析处理,得到所述缺口位置信息; 所述获取所述目标图像的第一角度信息,包括:获取所述目标图像的编号信息;根据所述编号信息在预设的编号角度对照表中进行查询处理,得到与所述目标图像对应的所述第一角度信息; 所述对所述第一角度信息、所述第二角度信息进行综合分析处理,得到所述缺口位置信息,包括:通过将所述第一角度信息和所述第二角度进行累加,得到所述缺口位置信息; 所述对所述晶圆图像进行晶圆位置偏差计算处理,得到晶圆位置偏差信息,包括:对每个所述晶圆图像进行圆心计算处理,得到每个所述晶圆图像的圆心坐标;对所述圆心坐标进行拟合处理,得到旋转中心坐标;根据所述旋转中心坐标和所述圆心坐标得到所述晶圆位置偏差信息; 所述对每个所述晶圆图像进行圆心计算处理,得到每个所述晶圆图像的圆心坐标,包括:对每个所述晶圆图像,利用所述晶圆图像的圆弧中,两个点和已知的晶圆半径,计算每个所述晶圆图像的所述圆心坐标; 所述对所述圆心坐标进行拟合处理,得到旋转中心坐标,包括:求取每个所述圆心坐标的平均值,得到所述旋转中心坐标。
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