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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种检测偏振复合片的方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115389430B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211027079.8，技术领域涉及：G01N21/21；该发明授权一种检测偏振复合片的方法及设备是由程德文;侯起超;李阳;黄逸伦;王涌天设计研发完成，并于2022-08-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种检测偏振复合片的方法及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种检测偏振复合片的方法，包括如下步骤：通过光谱仪测量光源发出的光线的初始光强Iin；通过样品台展平并固定待测量的偏振复合片，偏振复合片包括第一膜片和第二膜片，第一膜片包括四分之一波片，第二膜片包括线性偏振片或线性偏振片和偏振分光片的组合；调整偏振光检测片和偏振复合片的相对角度，不断采集透过偏振复合片的透过光强Iout；从透过光强Iout中选取Iμ和Iμ+π2，计算正交光强之和Isum＝Iμ+Iμ+π2，然后通过Isum、Iout的关系式，计算四分之一波片的相位延迟量δ、偏振复合片的透过率、以及第一膜片和第二膜片的透光方向之间的角度中的至少一者。上述检测方法，可以快速检测偏振复合片的质量。本发明同时公开了用于实现上述检测方法的设备。

本发明授权一种检测偏振复合片的方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种检测偏振复合片的方法，其特征在于，包括如下步骤： S100，通过光谱仪测量样品台上未放置偏振复合片时光源发出的光线的初始光强Iin； S102，通过样品台展平并固定待测量的偏振复合片；所述偏振复合片包括第一膜片和第二膜片，所述第一膜片比所述第二膜片更靠近所述光谱仪，所述第一膜片包括四分之一波片，所述第二膜片包括线性偏振片，或者，所述第二膜片包括线性偏振片和偏振分光片的组合； S104，调整偏振光检测片和偏振复合片的相对角度，不断采集透过偏振复合片的透过光强Iout； S106，利用偏振光检测片、第一膜片和第二膜片的琼斯矩阵，建立透过光强Iout和初始光强Iin之间的关系式： Iout＝Iinτ2τfδ,μ,β,α,γ； 其中，τ2和τ分别为偏振光检测片和偏振复合片的透过率，δ是四分之一波片的相位延迟量，α是线性偏振片的透光方向与世界坐标系中OX轴的夹角，β是第一膜片和第二膜片的透光方向之间的角度，μ是偏振光检测片和第二膜片的透光方向之间的夹角，γ是第二膜片中线性偏振片和偏振分光片的透光方向的夹角； 当第二膜片包括偏振分光片和线性偏振片的组合，且所述偏振分光片设置在所述四分之一波片和所述线性偏振片之间时，Iout和初始光强Iin之间的关系式： 其中，τ＝τ0τ1τq，τ0、τ1、τq分别为所述线性偏振片、所述偏振分光片和所述四分之一波片膜片的透过率； S108，从透过光强Iout中任意选取两个正交光强Iμ和Iμ+π2，计算正交光强之和Isum＝Iμ+Iμ+π2； S110，通过Isum、Iout的关系式，计算所述四分之一波片的相位延迟量δ、所述偏振复合片的透过率τ、以及所述第一膜片和所述第二膜片的透光方向之间的角度β中的至少一者。

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