上海思汀电子科技有限公司王昕获国家专利权
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龙图腾网获悉上海思汀电子科技有限公司申请的专利一种芯片检查治具获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223066118U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422225753.4，技术领域涉及：H01L21/66；该实用新型一种芯片检查治具是由王昕;刘异峰;张鸣;丁逸昊;陈天泽设计研发完成，并于2024-09-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片检查治具在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种芯片检查治具，包括芯片检测治具座体，所述芯片检测治具座体的上方的两侧设有固定滑槽，所述芯片检测治具座体的内部设有双工位芯片置放台，所述双工位芯片置放台的两侧设有固定滑块，所述双工位芯片置放台的内部的两端分别设有第一芯片检查腔和第二芯片检测腔。该实用新型中在双工位芯片置放台的内部的两端分别设有第一芯片检查腔和第二芯片检测腔，将两个芯片检测腔组装一起，可以同时存放两个芯片，使两个芯片轮流进行检查，从而达到循环取放的效果，芯片检查的同时也可以对未检查的芯片进行上料，可以节约时间，使其预留更多的操作时间，提高芯片检查的速率。
本实用新型一种芯片检查治具在权利要求书中公布了：1.一种芯片检查治具，包括芯片检测治具座体（8），其特征在于：所述芯片检测治具座体（8）的上方的两侧设有固定滑槽（6），所述芯片检测治具座体（8）的内部设有双工位芯片置放台（10），所述双工位芯片置放台（10）的两侧设有固定滑块（7），所述双工位芯片置放台（10）的内部的两端分别设有第一芯片检查腔（16）和第二芯片检测腔（17），所述双工位芯片置放台（10）的两端设有操作手把（15），所述芯片检测治具座体（8）的上方的中间位置设有活动盖板（1），所述活动盖板（1）的内部的中间位置设有芯片定位按压块（3），所述芯片检测治具座体（8）的底部的两端分别设有左侧支撑板（9）和右侧支撑板（14），所述芯片检测治具座体（8）的底部的四个角的位置均设有第二固定螺丝（20）。
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