胜科纳米(苏州)股份有限公司陈超获国家专利权
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龙图腾网获悉胜科纳米(苏州)股份有限公司申请的专利X射线无损分析装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223065205U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422226967.3，技术领域涉及：G01N23/18；该实用新型X射线无损分析装置是由陈超;陈隆基;华佑南;李晓旻设计研发完成，并于2024-09-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本X射线无损分析装置在说明书摘要公布了：本实用新型涉及半导体晶圆检测技术领域，尤其涉及一种X射线无损分析装置。该X射线无损分析装置包括壳体、载物台、架体、探测器和激光打标器。其中，载物台位于壳体内，且载物台与壳体的底部滑动连接；载物台被配置为放置样品。架体位于壳体内。探测器与架体滑动连接，探测器架设于载物台的正上方，探测器被配置为检测样品的内部结构。激光打标器设置在探测器的上方，且激光打标器与探测器同轴设置，激光打标器被配置为对样品的表面做镭射标记。该X射线无损分析装置能够提高研磨和制样的工作效率，省时省力，达到节约成本的目的。
本实用新型X射线无损分析装置在权利要求书中公布了：1.X射线无损分析装置，其特征在于，包括： 壳体100； 载物台200，所述载物台200位于所述壳体100内，且所述载物台200与所述壳体100的底部滑动连接；所述载物台200被配置为放置样品； 架体300，所述架体300位于所述壳体100内； 探测器400，所述探测器400与所述架体300滑动连接，所述探测器400架设于所述载物台200的正上方，所述探测器400被配置为检测所述样品的内部结构； 激光打标器500，所述激光打标器500设置在所述探测器400的上方，且所述激光打标器500与所述探测器400同轴设置，所述激光打标器500被配置为对所述样品的表面做镭射标记。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人胜科纳米(苏州)股份有限公司，其通讯地址为：215124 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区09栋507室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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