中国电子技术标准化研究院徐迎春获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子技术标准化研究院申请的专利以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119509714B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411413367.6，技术领域涉及：G01J5/90；该发明授权以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法是由徐迎春;徐沛;阚劲松;沙长涛;张红设计研发完成，并于2024-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光电检测技术领域，尤其涉及一种以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法，包括：将多个短波红外焦平面探测器分成多组样品，置于试验箱中；进行样品在正常工作状态下的高温条件的带电老化测试；带电老化测试过程中，按周期时间间隔持续采集样品的多帧图像数据；增大积分时间，并以积分时间作为横坐标，以图像数据的灰度值作为纵坐标，拟合得到暗信号；并通过电路增益常数将暗信号转化为暗电流；以暗电流相对初始值的变化量判断样品的失效时间获得样品在高温时的失效寿命，建立自适应加速模型计算正常工作温度下该样品的使用寿命。本发明可以批量测量短波红外器件的暗电流，测量结果精确，成本低。
本发明授权以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法在权利要求书中公布了：1.一种以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法，其特征在于，包括以下步骤： 将多个短波红外焦平面探测器分成多组样品，置于试验箱中； 进行样品在正常工作状态下的高温条件的带电老化测试； 带电老化测试过程中，按周期时间间隔持续采集样品的多帧图像数据；增大积分时间，并以积分时间作为横坐标，以图像数据的灰度值作为纵坐标，拟合得到暗信号；并通过电路增益常数将暗信号转化为暗电流； 以暗电流相对初始值的变化量判断样品的失效时间获得样品在高温时的失效寿命，建立自适应加速模型计算正常工作温度下该样品的使用寿命。
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