登景(天津)科技有限公司王延娇获国家专利权
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龙图腾网获悉登景(天津)科技有限公司申请的专利应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119880802B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510360622.3,技术领域涉及:G01N21/01;该发明授权应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置是由王延娇;徐雅林;戴舒杨设计研发完成,并于2025-03-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置在说明书摘要公布了:本申请提供了一种应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置,用于玻璃基板的缺陷检测准确度。方法主要包括:通过高速偏振相机获取多角度偏振光场数据;根据多角度偏振光场数据生成三维折射率异常图;三维折射率异常图中包括各个体素对应的折射率扰动值;通过三维折射率异常图中折射率扰动值确定的异常位置坐标,并根据异常位置坐标从通过高光谱成像相机获取的二维光谱图像中截取异常区域图像;二维光谱图像包括各个位置点的光谱数据;通过坐标变换将异常区域图像中的光谱数据映射到三维折射率异常图中;根据映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据确定玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因。
本发明授权应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法,其特征在于,所述方法应用于玻璃基板缺陷检测系统,所述系统包括:折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块以及玻璃基板缺陷检测装置;所述折射图像模块包括多角度偏振光源阵列、高速偏振相机、白光干涉仪;所述光谱图像模块包括高光谱成像相机和LED匀光光源;所述协同控制模块包括六轴运动平台以及六轴机械臂,所述六轴运动平台上设置有吸附玻璃基板的真空吸盘;所述多角度偏振光源阵列和所述高光谱成像相机设置在所述六轴机械臂上,所述高速偏振相机和所述LED匀光光源设置在正对于所述玻璃基板上方;所述玻璃基板缺陷检测装置与所述折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块相连,所述玻璃基板缺陷检测装置用于通过所述折射图像模块和光谱图像模块获取的图像数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因; 所述通过所述折射图像模块和光谱图像模块获取的图像数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因,包括: 设置所述多角度偏振光源阵列的光源参数,以通过所述高速偏振相机获取多角度偏振光场数据Iθ,λ,P,x,y;其中,θ为入射角、λ为波长、P为偏振态、x,y为位置坐标; 根据所述多角度偏振光场数据Iθ,λ,P,x,y生成三维折射率异常图;所述三维折射率异常图中包括各个体素对应的折射率扰动值; 通过所述三维折射率异常图中折射率扰动值确定的异常位置坐标,并根据所述异常位置坐标从通过所述高光谱成像相机获取的二维光谱图像中截取异常区域图像;所述二维光谱图像包括各个位置点的光谱数据; 通过坐标变换将所述异常区域图像中的光谱数据映射到所述三维折射率异常图中; 根据映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因; 所述根据映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因,包括: 对所述映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据进行数据归一化; 根据经过归一化的所述映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据构建图结构数据,所述图结构数据中的缺陷节点根据所述折射率扰动值和所述光谱数据确定,所述图结构数据中的连接边权重根据缺陷节点之间的欧式距离和相似度确定; 通过所述图结构数据中的缺陷节点和对应的连接边确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因。
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