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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利一种数据块的管理方法、电子设备、存储介质及产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119917029B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510389008.X，技术领域涉及：G06F3/06；该发明授权一种数据块的管理方法、电子设备、存储介质及产品是由钱翔;邵文豪;方超设计研发完成，并于2025-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种数据块的管理方法、电子设备、存储介质及产品在说明书摘要公布了：本申请公开了一种数据块的管理方法、电子设备、存储介质及产品，涉及存储技术领域，包括：获取当前时刻存储单元包含的数据块总量和每个数据块的标记信息；基于标记信息确定至少一个数据块中是否存在坏块，并统计确定出来的坏块的第一数量；当第一数量小于第一阈值时，获取当前时刻之前的N个写擦操作期间新增的坏块数量，并计算与N之间的比值，得到坏块增长平均数；计算坏块增长平均数与数据块总量之间的比值，得到当前时刻存储单元的第一坏块增长率；若第一坏块增长率大于等于仿真测试中的第二坏块增长率，则发送第一预警信息到处理器。本发明可以及时发现固态硬盘中的坏块，预判纠错机制掩盖下的潜在数据失效风险，避免数据丢失的问题。

本发明授权一种数据块的管理方法、电子设备、存储介质及产品在权利要求书中公布了：1.一种数据块的管理方法，其特征在于，所述方法包括： 获取当前时刻存储单元包含的数据块总量、以及每个数据块的标记信息，所述存储单元中包含至少一个数据块，所述标记信息用于指示当前数据块是否发生故障； 基于所述标记信息确定所述至少一个数据块中是否存在坏块，并统计确定出来的坏块的坏块数量； 当所述坏块数量小于第一阈值时，获取所述当前时刻之前的N个写擦操作期间所述存储单元中新增的坏块数量，并计算所述新增的坏块数量与所述N之间的比值，得到坏块增长平均数，N≥1且为正整数； 计算所述坏块增长平均数与所述数据块总量之间的比值，得到所述当前时刻所述存储单元的第一坏块增长率； 若所述第一坏块增长率大于等于仿真测试中的第二坏块增长率，则发送第一预警信息到主机，所述第一预警信息用于向所述主机报告所述存储单元在当前时刻的数据块状态异常； 其中，所述仿真测试中的第二坏块增长率的确定过程，包括： 获取所述当前时刻所述存储单元的当前温度和已进行写擦操作的总次数； 基于预设的多个写擦操作次数和多个温度，对所述存储单元进行坏块测试，得到映射表，所述映射表包括至少一个映射关系，每个所述映射关系为一个写擦操作次数阶梯、一个温度阶梯与一个基础坏块增长率之间的映射关系； 基于所述至少一个映射关系，对所述存储单元进行仿真得到老化影响系数和温度影响系数； 基于所述当前温度、所述总次数、所述映射表、所述老化影响系数和所述温度影响系数，确定所述第二坏块增长率； 所述基于所述当前温度、所述总次数、所述映射表、所述老化影响系数和所述温度影响系数，确定所述第二坏块增长率，包括： 在所述映射表中查找与所述当前温度所在的目标温度阶梯、所述总次数所在的目标写擦操作次数阶梯、以及与所述目标温度阶梯、所述目标写擦操作次数阶梯对应的目标基础坏块增长率； 根据所述目标温度阶梯对应的基础温度值、所述目标写擦操作次数阶梯对应的基础写擦操作次数、所述目标基础坏块增长率、所述老化影响系数、所述温度影响系数、所述当前温度和所述总次数，按照预设表达式计算得到所述第二坏块增长率； 所述预设表达式为： 其中，为第二坏块增长率；为目标基础坏块增长率；为老化影响系数；为温度影响系数；为已进行写擦操作的总次数；为基础写擦操作次数；为当前温度；为基础温度值。

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