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龙图腾网获悉杭州广立测试设备有限公司申请的专利晶圆的差异化测试方法、系统、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936609B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510406577.0，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权晶圆的差异化测试方法、系统、电子设备和存储介质是由汪立夫;李成霞;李赛飞;安亚宁设计研发完成，并于2025-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本晶圆的差异化测试方法、系统、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种晶圆的差异化测试方法、系统、电子设备和存储介质。其中，该方法包括：基于同批次晶圆的测试需求和需测试裸片的坐标信息，将每个需测试裸片的坐标信息分配至至少一个裸片集合中；对每个裸片集合设置电性方案形成至少一个测试集合；基于至少一个裸片集合及其对应的至少一个测试集合进行组合，生成至少一个测试方案集合；获取同批次晶圆的晶圆，基于至少一个测试方案集合确定每个晶圆的测试内容；基于测试内容对同批次晶圆进行差异化测试。该方式中，可以每个批次的晶圆和或每个晶圆的裸片进行差异化测试，满足FAB的定制化的测试方案需求，缩短晶圆级电性测试测试晶圆的时间，从而提高FAB的晶圆出货效率。

本发明授权晶圆的差异化测试方法、系统、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种晶圆的差异化测试方法，其特征在于，所述方法包括： 基于同批次晶圆的测试需求和需测试裸片的坐标信息，将每个需测试裸片的坐标信息分配至至少一个裸片集合中；对每个所述裸片集合设置电性方案形成至少一个测试集合； 基于所述至少一个裸片集合及其对应的所述至少一个测试集合进行组合，生成至少一个测试方案集合； 获取所述同批次晶圆的晶圆，基于所述至少一个测试方案集合确定每个晶圆的测试内容；基于所述测试内容对所述同批次晶圆进行差异化测试； 对每个所述裸片集合设置电性方案形成至少一个测试集合，包括：对每个所述裸片集合设置至少一个测试对象；根据所述至少一个测试对象进行组合生成至少一个测试集合，并对测试对象设置至少一个电性方案； 所述基于所述至少一个裸片集合及其对应的所述至少一个测试集合进行组合，包括：将至少一个测试集合进行分类和合并，并对每个测试集合匹配裸片集合和所需测试的坐标信息，得到至少一个测试方案集合，每个测试方案集合包含完全相同部分相同完全不同的测试集合、测试对象和裸片集合。

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