成都中航华测科技有限公司虞从军获国家专利权
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龙图腾网获悉成都中航华测科技有限公司申请的专利一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119993246B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510479696.9，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置是由虞从军;李明聪;李志江设计研发完成，并于2025-04-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置，涉及存储器阵列测试技术领域。包括在读写操作过程中，对存储器阵列中每个存储单元的瞬时电流波形进行捕获，并从中提取出电流特征，利用所提取的电流特征构建差异矩阵，进而动态标记超出阈值的存储单元。本发明通过分析存储单元在瞬时电流波形捕获前后存储数据量的差异，评估存储单元容量的衰退状况，并结合容量衰退数据作为辅助评估指标，与存储单元老化速率相结合，实现了在不对储存器阵列施加外部影响条件的情况下完成存储单元老化程度的综合评估，不仅提升了老化测试的精确性，而且能够有效辨识存储单元间的老化差异，确保关键存储单元获得及时的处理与维护。
本发明授权一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种用于存储器阵列的快速老化测试方法，其特征在于，包括： 在读写操作过程中，对存储器阵列中每个存储单元的瞬时电流波形进行捕获，并从中提取出电流特征； 利用所提取的电流特征构建差异矩阵，进而动态标记超出阈值的存储单元； 构建老化轨迹模型，以时间序列下不同标记的存储单元瞬时电流波形作为输入，以电流特征作为输出，从而获得老化速率，老化轨迹模型用于通过瞬时电流的波形来判别存储单元的老化程度，从而对存储器阵列后续出现的故障点提前预估； 依据老化速率对已标记的存储单元进行优先级权重的分配； 获取不同优先级权重下存储单元的存储容量； 根据电流特征比值对存储容量施加与之成正比的压力梯度； 依据时间序列内单个存储单元内压力梯度的变化程度，评估存储单元的容量衰减情况； 将评估结果与优先级权重相关联，以获取储存器内储存单元的老化更换需求程度。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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