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恭喜浙江大学陈水桥获国家专利权

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龙图腾网恭喜浙江大学申请的专利差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN111238378B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202010191246.7,技术领域涉及:G01B11/02;该发明授权差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法是由陈水桥;厉位阳设计研发完成,并于2020-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。

差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法。待测对象带材置于第一第二透镜之间,光源发出的光束,经过第一透镜汇聚成平行光束后,再经第二透镜汇聚入射到电桥光电测量电路的光敏电阻上,经第一透镜出射的光束一部分被带材阻挡,另一部分直接入射到第二透镜,电桥光电测量电路再经过转换放大器后输出电压表征微位移,并精确求出电压与微位移的关系式。本发明将微小位移的变化利用差动光通量的方法实现转变,并通过直流电桥光电转换电路来测量差动光通量,再经过转换放大器后输出电压,准确地测量了带材微小位移,使微小位移的测量精度得到了很大提高。

本发明授权差动光通量电桥法测量带材微位移的装置和方法在权利要求书中公布了:1.一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置,其特征在于:主要包括光源、透镜组、待测对象、电桥光电测量电路;透镜组包括第一透镜和第二透镜,待测对象为带材,带材置于第一透镜和第二透镜之间,光源发出的光束,经过第一透镜汇聚成平行光束后,再经第二透镜汇聚入射到电桥光电测量电路的光敏电阻上,经第一透镜出射的光束一部分被带材阻挡,另一部分直接入射到第二透镜,电桥光电测量电路的输出端通过转换放大器与外部计算机连接; 所述的带材为不透光的物件; 所述的带材沿垂直于光轴方向靠近远离光轴地移动。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人浙江大学,其通讯地址为:310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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