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龙图腾网恭喜聚灿光电科技(宿迁)有限公司申请的专利芯片外观的动态校正方法、电子设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114092342B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010747766.1，技术领域涉及：G06T5/90；该发明授权芯片外观的动态校正方法、电子设备及可读存储介质是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2020-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片外观的动态校正方法、电子设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片外观的动态校正方法、电子设备及可读存储介质，所述方法包括：对于同一晶片，连续拍摄多张灰度图像，所述晶片上分布若干晶粒；自连续拍摄的多张灰度图像中获取至少一张图像，并对其进行处理形成校验图像；自校验图像中心开始均匀向外扩展获取校验区域；根据校验区域中各像素点的灰度值获取对应于每一校验位置的校验值；以所述校验值检验每一晶粒和或检验每一晶粒的预定区域，并根据其结果确认当前检测的晶粒是否为不良品。本发明对应于每一检测晶粒，均需要依次通过校验图像的提取，校验区域的选定后，针对每一晶片个例形成独立的校验值；并以该校验值对晶粒的优良性进行卡控，提升晶粒优良性的卡控精度。

本发明授权芯片外观的动态校正方法、电子设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片外观的动态校正方法，其特征在于，所述方法包括： 对于同一晶片，连续拍摄多张灰度图像，所述晶片上分布若干晶粒； 自连续拍摄的多张灰度图像中获取至少一张图像，并对其进行处理形成校验图像； 自校验图像中心开始均匀向外扩展获取校验区域，所述校验区域为等同于预设面积的分区，和或等同于预设晶粒数量的分区，和或具有预定大小的预定图形的分区；所述校验区域的面积小于所述校验图像的面积和或所述校验区域包含的晶粒的数量小于晶片包含晶粒的数量； 根据校验区域中各像素点的灰度值获取对应于每一校验位置的校验值；所述校验位置为任一单颗晶粒和或任一单颗晶粒上的任一部位；所述校验值为所述校验位置对应的卡控灰度值； 以所述校验值检验每一晶粒和或检验每一晶粒的预定区域，并根据其结果确认当前检测的晶粒是否为不良品。

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