恭喜大塚电子株式会社新家俊辉获国家专利权
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龙图腾网恭喜大塚电子株式会社申请的专利光学测定装置、波长校正方法以及标准试样获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112710393B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011149855.2，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权光学测定装置、波长校正方法以及标准试样是由新家俊辉;井上展幸;大川内真;冈本宗大;川口史朗;水口勉设计研发完成，并于2020-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学测定装置、波长校正方法以及标准试样在说明书摘要公布了：本发明通过一种光学测定装置、波长校正方法以及标准试样。光学测定装置包括以下单元：理论干涉谱获取单元，其获取基于标准试样的已知的厚度、折射率以及消光系数进行数学计算得出的、关于该标准试样的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为理论干涉谱；实测干涉谱获取单元，其获取利用受光器经由衍射光栅接收对标准试样照射测定光而产生的反射光或透过光所生成的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为实测干涉谱；关联信息获取单元，其获取用于决定理论干涉谱与实测干涉谱的关于波长的关联的关联信息；以及波长校正单元，其参照关联信息将用于规定多个受光元件的波长值的波长校正式决定为使对实测干涉谱应用波长校正式所得到的结果与理论干涉谱一致。
本发明授权光学测定装置、波长校正方法以及标准试样在权利要求书中公布了：1.一种光学测定装置，具备： 光源，其产生测定光； 衍射光栅，其被入射对试样照射所述测定光而产生的反射光或透过光； 受光器，其包括用于接收通过所述衍射光栅进行波长分离后的光的多个受光元件，所述多个受光元件排列配置； 理论干涉谱获取单元，其获取基于标准试样的已知的厚度、折射率以及消光系数进行数学计算得出的、关于该标准试样的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为理论干涉谱； 实测干涉谱获取单元，其获取利用所述受光器经由所述衍射光栅接收对所述标准试样照射所述测定光而产生的反射光或透过光所生成的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为实测干涉谱； 关联信息获取单元，其获取用于决定所述理论干涉谱与所述实测干涉谱的关于波长的关联的关联信息；以及 波长校正单元，其参照所述关联信息将用于规定所述多个受光元件的波长值的波长校正式决定为使对所述实测干涉谱应用所述波长校正式所得到的结果与所述理论干涉谱一致。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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