广东正业科技股份有限公司叶兆斌获国家专利权
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龙图腾网获悉广东正业科技股份有限公司申请的专利一种半导体分立元件线型检测方法及检测设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114332042B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111661978.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种半导体分立元件线型检测方法及检测设备是由叶兆斌;魏承锋;徐同设计研发完成，并于2021-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体分立元件线型检测方法及检测设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体分立元件线型检测方法，以预设的窗口分别对分立元件图像的平方及分立元件图像进行均值滤波得到滤波图像；接着根据标准差计算公式、第一滤波图像和第二滤波图像计算得到局部标准差图像，并以局部标准差图像为基础提取得到局部焊线图像，其中，由于参数w与h不相同，从而实现抑制某一方向上的梯度值的目标，具有更高的灵活性；再从分立元件图像中得到焊球中心坐标，最终可以根据预设的NG标准、局部焊线图像的焊线坐标集合S及焊球中心坐标判断半导体分立元件是否为NG；其中，由于局部焊线图像已提取过滤掉无关梯度的干扰，能简洁、快速地计算与焊球中心坐标之间的间距以判断半导体分立元件是否为NG，耗时短且占用资源少。
本发明授权一种半导体分立元件线型检测方法及检测设备在权利要求书中公布了：1.一种半导体分立元件线型检测方法，其特征在于，包括： 预先设定均值滤波的滤波窗口,所述滤波窗口的宽度和高度不相等； 获取半导体分立元件的分立元件图像Ix,y； 对Ix,y的平方进行均值滤波，得到第一滤波图像EI2； 对Ix,y进行均值波滤，得到第二滤波图像EI； 根据标准差计算公式、EI2及EI计算得到局部标准差图像Iσ； 从Iσ中提取得到局部焊线图像IWireContours； 计算Ix,y的焊球中心坐标xball,yball； 判断IWireContours的各像素与所述焊球中心坐标xball,yball之间的距离是否均在预设的距离范围内； 若是，则判定所述半导体分立元件为正常工件； 若否，则判定所述半导体分立元件为NG件。
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