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龙图腾网获悉湖南大学申请的专利一种声子晶体时变可靠性测试方法、计算设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114997060B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210663980.8，技术领域涉及：G06F30/27；该发明授权一种声子晶体时变可靠性测试方法、计算设备及存储介质是由陈宁;张琨;刘坚;李蓉设计研发完成，并于2022-06-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种声子晶体时变可靠性测试方法、计算设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及声子晶体领域，公开了一种声子晶体时变可靠性测试方法、计算设备及存储介质，并包括步骤：根据声子晶体的参数确定样本空间；根据样本空间和声子晶体的失效条件构建可靠性测试模型；根据可靠性测试模型构建神经网络模型；根据神经网络模型和样本空间预测声子晶体在服役时间内的失效率。本发明通过构建声子晶体的可靠性测试模型，在通过可靠性测试模型构建神经网络模型，能够预测声子晶体在服役时间内的失效率，避免了由于缺少声子晶体的参数，而无法判断声子晶体的性能，实现了对声子晶体在服役时间内性能表现的确定。

本发明授权一种声子晶体时变可靠性测试方法、计算设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种声子晶体时变可靠性测试方法，适于在计算设备中执行，所述方法包括步骤： 根据声子晶体的参数确定样本空间； 根据所述样本空间和所述声子晶体的失效条件构建可靠性测试模型，所述声子晶体的失效条件为：在服役时间内，当声子晶体的带隙下限大于预设频率时，声子晶体失效，其中，带隙下限由随机变量参数、随机过程参数、区间变量参数和区间过程参数计算得到，其具体计算结果为：其中，X＝X1，X2，...Xm，表示由随机变量参数组成的m维向量，Y＝Y1，Y2，...Yn，表示由区间变量参数组成的n维向量，St＝[S1t，S2t，...Skt]，表示由k个随机过程参数组成的向量，It＝[I1t，I2t，...Ilt]，表示由l个区间过程参数组成的向量，t为声子晶体预设的服役时间； 根据所述可靠性测试模型构建神经网络模型； 根据所述神经网络模型和所述样本空间预测所述声子晶体在服役时间内的失效率； 其中，根据声子晶体的失效条件，计算声子晶体是否失效的极限状态方程为： 其中，gX，Y，St，It，t表示预设频率与声子晶体的带隙下限的差值，当gX，Y，St，It，t小于0时，声子晶体失效。

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