深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司陈韶灵获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司申请的专利一种手机壳导通率的测试装置及系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223051422U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421372188.8，技术领域涉及：G01R27/02；该实用新型一种手机壳导通率的测试装置及系统是由陈韶灵;陆小珊设计研发完成，并于2024-06-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种手机壳导通率的测试装置及系统在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种手机壳导通率的测试装置及系统，装置包括：外壳；功能底座，外壳设置在功能底座上；测试模组包括上模组件和下模组件，下模组件与功能底座的第一表面连接，上模组件和所述下模组件之间放置有手机壳，上模组件和下模组件均位于外壳内部，第一导通率和第二导通率通过功能底座指示；升降模组设置在外壳内部，用于升降上模组件。通过升降模组升降上模组件，在上模组件上升时在下模组件上放取手机壳，在上模组件下降按压下模组件时进行手机壳的导通率测试，同时测量手机壳的第一表面和第二表面，并通过功能底座进行指示，测试速度快，测试成本低，测试精度高，可广泛应用于手机壳测试技术领域。
本实用新型一种手机壳导通率的测试装置及系统在权利要求书中公布了：1.一种手机壳导通率的测试装置，其特征在于，包括： 外壳； 功能底座，所述外壳设置在功能底座上； 测试模组，包括上模组件和下模组件，所述下模组件与所述功能底座的第一表面连接，所述上模组件和所述下模组件之间放置有手机壳，所述下模组件用于测试手机壳第一表面的第一导通率，所述上模组件用于测试手机壳第二表面的第二导通率，所述上模组件和所述下模组件均位于所述外壳内部，所述第一导通率和所述第二导通率通过所述功能底座指示； 升降模组，设置在所述外壳内部，用于升降所述上模组件。
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