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龙图腾网获悉深圳米飞泰克科技股份有限公司申请的专利一种芯片的测试方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118962386B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410961501.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片的测试方法、装置及设备是由陈瑞;杨泽坤;楚志华;李安平;李晓白设计研发完成，并于2024-07-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片的测试方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本申请适用于芯片技术领域，提供了一种芯片的测试方法、装置及设备，包括：响应于对芯片的修调测试指令，确定芯片的多个管脚参数各自对应的存储器响应值，在确定芯片烧写完成后，响应于对芯片的读取指令，获取芯片中与多个管脚参数各自对应的存储器写入值，根据与多个管脚参数各自对应的存储器写入值与存储器响应值，判断芯片是否通过修调测试，在确定芯片通过修调测试的情况下，通过控制芯片的多个管脚的电压或波形频率，判断芯片的输出功能是否合格，当芯片的输出功能合格时，判定芯片合格。通过本发明可以解决如何对芯片进行测试，将不合格的芯片识别出来的问题。

本发明授权一种芯片的测试方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片的测试方法，其特征在于，包括： 响应于对芯片的修调测试指令，确定所述芯片的多个管脚参数各自对应的存储器响应值； 在确定所述芯片烧写完成后，响应于对所述芯片的读取指令，获取所述芯片中与所述多个管脚参数各自对应的存储器写入值； 根据与所述多个管脚参数各自对应的所述存储器写入值与所述存储器响应值，判断所述芯片是否通过修调测试； 在确定所述芯片通过修调测试的情况下，通过控制所述芯片的多个管脚的电压或波形频率，判断所述芯片的输出功能是否合格； 当所述芯片的输出功能合格时，判定所述芯片合格； 其中，所述响应于对芯片的修调测试指令，确定所述芯片的多个管脚参数各自对应的存储器响应值，包括： 响应于对所述芯片的所述修调测试指令，向所述芯片发送不同的写入波形指令，所述写入波形指令中携带有跳变点时间信息，所述跳变点时间信息包括所述写入波形指令的跳变点时间； 根据所述芯片的多个管脚参数的目标参数值，确定目标写入波形指令； 对于任何一个所述管脚参数，对所述目标写入波形指令的跳变点时间，进行数据转换处理，得到二进制的跳变点时间，将所述二进制的跳变点时间除以所述芯片的预设波特率，得到二进制的存储器响应值，将所述二进制的存储器响应值进行转换，得到十进制的存储器响应值，作为所述任何一个管脚参数对应的所述存储器响应值。

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