上海恩弼科技有限公司谢東非获国家专利权
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龙图腾网获悉上海恩弼科技有限公司申请的专利光敏二极管响应度测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223051449U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421719868.2，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型光敏二极管响应度测试装置是由谢東非设计研发完成，并于2024-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本光敏二极管响应度测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种光敏二极管响应度测试装置，包括光源组件、入射滤光组件、分光组件、出射滤光组件、电流表、光敏二极管和测试架；入射滤光组件设置在光源组件和分光组件之间，使光源组件的光线通过入射滤光组件照射至分光组件上，并形成不同波长的出射光；光敏二极管设置在测试架上，电流表串联在光敏二极管上；出射滤光组件设置在分光组件与光敏二极管之间，使出射光经出射滤光组件滤光后照射在光敏二极管上。本实用新型涉及光学测试设备，能够解决现有技术中光敏二极管响应度测试结果存在误差、测试环境调整灵活性的问题。
本实用新型光敏二极管响应度测试装置在权利要求书中公布了：1.一种光敏二极管响应度测试装置，其特征是：包括光源组件、入射滤光组件、分光组件、出射滤光组件、电流表10、光敏二极管12和测试架13；入射滤光组件设置在光源组件和分光组件之间，使光源组件的光线通过入射滤光组件照射至分光组件上，并形成不同波长的出射光；光敏二极管12设置在测试架13上，电流表10串联在光敏二极管12上；出射滤光组件设置在分光组件与光敏二极管12之间，使出射光经出射滤光组件滤光后照射在光敏二极管12上。
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