广东长兴半导体科技有限公司张治强获国家专利权
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龙图腾网获悉广东长兴半导体科技有限公司申请的专利一种芯片测试设备的测试机构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223051462U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421985260.4，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种芯片测试设备的测试机构是由张治强;杨师;苏允康设计研发完成，并于2024-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试设备的测试机构在说明书摘要公布了：本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试设备的测试机构，包括底板；所述底板的顶部设有测试板；所述测试板设有多个测试座；所述测试座设有安装座；所述安装座的顶部升降活动设有活动座；所述安装座的中部设有测试槽；所述活动座设有测试开口；所述安装座在测试槽的两侧翻转设置有抵压块；所述活动座的顶部升降活动设有压板；所述压板贯穿设有多个穿孔；所述穿孔与测试开口对应设置。本实用新型通过设置多个测试座，每个测试座均能够对芯片进行测试，并且通过控制压板升降，从而能够控制所有的抵压块同时进行翻转，便于将芯片放置在测试槽以及将芯片压紧在测试槽中，从而能够同时对多个芯片进行的测试，大大地提高了工作效率。
本实用新型一种芯片测试设备的测试机构在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试设备的测试机构，其特征在于：包括底板；所述底板的顶部设有测试板；所述测试板设有多个测试座； 所述测试座设有安装座；所述安装座的顶部升降活动设有活动座；所述安装座的中部设有测试槽；所述活动座设有测试开口；所述测试槽显露于测试开口；所述安装座在测试槽的两侧翻转设置有抵压块；所述活动座用于驱动抵压块翻转； 所述活动座的顶部升降活动设有压板；所述压板贯穿设有多个穿孔；所述穿孔与测试开口对应设置。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人广东长兴半导体科技有限公司，其通讯地址为：523000 广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室、501室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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