武汉光谷薄膜技术有限公司吴洲获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉光谷薄膜技术有限公司申请的专利一种用于测量电阻率的可调式装置及设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223051423U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422120212.5，技术领域涉及：G01R27/02；该实用新型一种用于测量电阻率的可调式装置及设备是由吴洲;李顶房;林冲;李晨;周酉林;杨帆;吴超;郭凯;张维;程胜国设计研发完成，并于2024-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于测量电阻率的可调式装置及设备在说明书摘要公布了：本实用新型涉及一种用于测量电阻率的可调式装置及设备，装置包括电导率探测件、安装件、辅助压平件、支撑件、限位件；所述电导率探测件一侧插入所述安装件，所述安装件旋转套设于所述支撑件以调整所述电导率探测件在纵向上的位移，并通过所述限位件固定；其中，所述电导率探测件设有若干根、且测量电阻率前先通过所述辅助压平件将其背离所述安装件的一端压于同一直线上；一根所述电导率探测件对应一所述安装件，若干所述安装件间隔设于所述支撑件的转轴。其有益效果是：可在安装若干根电导率探测件的同时进行精准定位，一定程度上减少了装夹样品时需多次拆装电导率探测件的操作；并可对样品进行重复性测量，装置占用面积小。
本实用新型一种用于测量电阻率的可调式装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种用于测量电阻率的可调式装置，其特征在于，包括电导率探测件（1）、安装件（2）、辅助压平件（3）、支撑件（4）、限位件（5）； 所述电导率探测件（1）一侧插入所述安装件（2）辅助压平件，所述安装件（2）旋转套设于所述支撑件（4）以调整所述电导率探测件（1）在纵向上的位移、并通过所述限位件（5）固定； 其中，所述电导率探测件（1）设有若干根、且测量电阻率前先通过所述辅助压平件（3）将其背离所述安装件（2）的一端压于同一直线上；一根所述电导率探测件（1）对应一所述安装件（2），若干所述安装件（2）间隔设于所述支撑件（4）的转轴（41）。
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