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龙图腾网获悉中电科思仪科技股份有限公司申请的专利基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116465501B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310242967.X，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统是由刘加庆;刘彦良;刘志明;尹炳琪;杜特;刘磊;李志增;吴威;张冰;哈成阳;徐靖博设计研发完成，并于2023-03-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统在说明书摘要公布了：本公开提供了一种基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统，涉及红外光谱技术领域，包括获取低温黑体的均值干涉数据以及获取高温黑体的均值干涉数据；分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演，得到对应的低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱；基于低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱，采用复数辐射定标方法，计算复数辐射定标系数；利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，获取定标光谱辐射亮度，取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。能够更好的消除不同温度目标场景间以及仪器自身辐射等引入的相位偏差提升傅里叶变换红外光谱辐射计的测试精度。

本发明授权基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法，其特征在于，包括： 将标准黑体温度设置为低温，等待黑体温度稳定，获取低温黑体的均值干涉数据；将标准黑体温度设置为高温，等待黑体温度稳定，获取高温黑体的均值干涉数据； 分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演，得到对应的低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱；基于低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱，采用复数辐射定标方法，计算复数辐射定标系数； 利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，获取定标光谱辐射亮度，取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值，所述仪器的NESR值的测量方法为：将标准黑体温度设置为仪器NESR测试温度对应的温度，等待黑体温度稳定；采集黑体的干涉数据，并进行叠加均值，得到NESR测试温度时黑体的均值干涉数据；所述均值干涉数据经光谱反演得到复原复数光谱，并利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，得到定标光谱辐射亮度；取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。

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