中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))牛皓获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119416720B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411483652.5，技术领域涉及：G06F30/36；该发明授权双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法和装置是由牛皓;柳月波;颜佳辉;廖文渊;李树旺;杨少华;赖灿雄;周斌;路国光设计研发完成，并于2024-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法和装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。方法包括：对晶体管进行恒定应力加速寿命试验，获得归一化β值随时长的变化关系数据，对变化关系数据进行参数拟合，获得晶体管的加速退化系数、时间幂系数和待定系数，并建立晶体管的退化轨迹模型，建立差分输入结构的电路仿真模型，正交试验获得归一化β值对双极型运算放大器的输入失调电压的影响数据；根据影响数据，建立归一化β值与双极型运算放大器的输入失调电压之间的映射关系；利用退化轨迹模型和映射关系，建立双极型运算放大器的可靠性预计模型。采用本方法能够提高双极型运算放大器的可靠性预计准确率和效率。
本发明授权双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法，其特征在于，所述方法包括： 对晶体管进行恒定应力加速寿命试验，获得归一化β值随时长的变化关系数据，其中，所述归一化β值用于表征晶体管的性能参数退化轨迹； 对所述变化关系数据进行参数拟合分析，获得晶体管的加速退化系数、时间幂系数和待定系数； 利用所述晶体管的加速退化系数、时间幂系数和待定系数，建立晶体管的退化轨迹模型； 建立差分输入结构的电路仿真模型，并对晶体管进行正交试验，获得归一化β值对双极型运算放大器的输入失调电压的影响数据； 根据归一化β值对双极型运算放大器的输入失调电压的影响数据，建立归一化β值与双极型运算放大器的输入失调电压之间的映射关系； 利用所述晶体管的退化轨迹模型和所述映射关系，建立双极型运算放大器的可靠性预计模型。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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