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龙图腾网获悉深圳市宇盛光电有限公司申请的专利一种电路组件选配方法、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119397995B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510005519.7，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种电路组件选配方法、系统及介质是由陈峰;陈斌;凌柏伟;潘明春设计研发完成，并于2025-01-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电路组件选配方法、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及电路组件选配技术领域，尤其涉及一种电路组件选配方法、系统及介质。所述方法包括以下步骤：通过电路组件信息获取不同元件的额定电压和额定电流；采用空白电路设计信息建立空白电路仿真空间；根据空白电路仿真空间对不同元件的额定电压和额定电流进行过载热密度量化，并进行不同元件间的元件性能衰退对比，得到不同元件间的元件性能衰退比值；基于元件性能衰退比值进行周期性性能衰退预测，得到不同元件间的周期性性能衰退预测报告；对周期性性能衰退预测报告进行稳定性检验，并以此进行电路元件选配。本发明通过对电路组件选配技术的优化处理使得电路组件选配技术更加完善。

本发明授权一种电路组件选配方法、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种电路组件选配方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：获取空白电路设计信息和待测试的电路组件信息；通过电路组件信息获取不同元件的额定电压和额定电流；采用空白电路设计信息建立空白电路仿真空间； 步骤S2：根据空白电路仿真空间对不同元件的额定电压和额定电流进行过载热密度量化，得到元件的过载热密度量化值；基于元件过载热密度量化值进行不同元件间的元件性能衰退对比，得到不同元件间的元件性能衰退比值；步骤S2具体为： 步骤S21：根据空白电路仿真空间对不同元件的额定电压和额定电流进行元件极限承载时序模拟，得到元件时序极限承载状态下的负荷电流-电压波动曲线； 步骤S22：对负荷电流-电压波动曲线进行平均时序电压和电流波动幅度识别，得到极限承载状态下的平均时序波动电压和平均时序波动电流； 步骤S23：根据平均时序波动电压和平均时序波动电流进行过载热密度量化，得到元件过载热密度量化值；步骤S23具体为： 步骤S231：对平均时序波动电压和平均时序波动电流进行波动极值区间提取，得到波动电压极值区间和波动电流极值区间； 步骤S232：根据波动电压极值区间和波动电流极值区间进行元件升温速率分析，得到元件升温速率； 步骤S233：基于元件升温速率进行升温扩散范围识别，得到升温扩散范围； 步骤S234：基于升温扩散范围进行不同元件间的升温范围重叠识别，得到升温范围重叠数据； 步骤S235：根据元件升温速率对升温范围重叠数据进行热扩散等距范围量分析，得到热扩散等距范围量； 步骤S236：根据元件升温速率、升温范围重叠数据以及热扩散等距范围量进行过载热密度量化，得到元件过载热密度量化值； 步骤S24：基于元件过载热密度量化值进行不同元件间的元件性能衰退对比，得到不同元件间的性能衰退比值； 步骤S3：基于元件性能衰退比值进行周期性性能衰退预测，得到不同元件间的周期性性能衰退预测报告；对周期性性能衰退预测报告进行稳定性检验，并以此进行电路元件选配。

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