上海炬豪半导体有限公司潘扬获国家专利权
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龙图腾网获悉上海炬豪半导体有限公司申请的专利多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115585886B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211153646.4,技术领域涉及:G01J3/02;该发明授权多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备是由潘扬;李丹设计研发完成,并于2022-09-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备在说明书摘要公布了:本申请公开一种多区多光谱检测装置及其多区多光谱检测方法、电子设备,所述多区多光谱检测装置具有若干检测区域,所述检测区域设置有若干不同波段的光谱通道;所述多区多光谱检测方法包括:根据目标波段的响应速率要求,设置在每个检测帧内,与该目标波段对应的目标光谱通道的单帧开启数目。所述多区多光谱检测方法能够降低功耗。
本发明授权多区多光谱检测装置及其检测方法、电子设备在权利要求书中公布了:1.一种多区多光谱检测装置的多区多光谱检测方法,其特征在于,所述多区多光谱检测装置具有若干检测区域,所述检测区域设置有若干不同波段的光谱通道;所述多区多光谱检测方法包括: 根据目标波段的响应速率要求,设置在每个检测帧内,与该目标波段对应的目标光谱通道的单帧开启数目,其中,所述目标波段的响应速率为根据目标光谱通道产生的电荷而得到的检测数据的变化量,表示目标光谱通道接收到的光能量变化率;通过关系式Mp设置所述单帧开启数目,Mp为所述单帧开启数目,M为目标光谱通道的总数量,p为响应速率参数,p≥1;当p>1时,相邻检测帧内开启的目标光谱通道不重复,以在p个检测帧内完成全部目标光谱通道的检测。
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