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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种基于角向对称旋转的超导磁体测试和校准方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115508757B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211209243.7，技术领域涉及：G01R33/07；该发明授权一种基于角向对称旋转的超导磁体测试和校准方法及装置是由蒋伟;鲁朝轩;赵大钧;韩槟阳;刘国;姚叶雷;王建勋;罗勇设计研发完成，并于2022-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于角向对称旋转的超导磁体测试和校准方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于角向对称旋转的回旋行波管超导磁体测试和校准方法及装置，属于真空电子、大功率毫米波源器件领域。本发明首先基于角向对称旋转方式求解高斯计测试误差，然后求解磁体内部线包生产加工产生的轴线倾斜误差和轴向偏移误差，通过高斯计测试所得轴向磁场和角向磁场数据，将测试误差有效扣除，高精度测量磁场分布及同心度。本发明能够有效克服现有测量技术中超导磁体和回旋行波管管体同心度和同轴度测试和校准误差较大，无法达到所需要的精度的缺陷，能够有效提高回旋行波管输出功率及效率，为回旋行波管稳定工作提供保障。

本发明授权一种基于角向对称旋转的超导磁体测试和校准方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于角向对称旋转的回旋行波管超导磁体测试和校准方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、基于角向对称旋转方式求解高斯计测试误差； S1.1、通过高斯计确定超导磁体的上升区、均匀区和下降区； S1.2、求解高斯计测试误差； 所述高斯计测试误差是高斯计霍尔片探头加工误差，以及测试时霍尔片探头与超导磁体的位置偏差的叠加； 以超导磁体的端面作为XY平面，垂直于磁体端面的方向为Z轴；将霍尔片探头放置于磁场均匀区，此时只有高斯计测试误差和内部线包轴线倾斜误差；保持霍尔片探头和磁体温孔的径向相对距离不变，然后角向旋转霍尔片探头，每隔π4记录高斯计上X方向读数，高斯计读数由式1、式2表示： 其中B0和Gx分别表示霍尔片探头在磁场均匀区时该轴向位置处的磁场和磁场在X轴方向分量的大小，Gx:π为旋转角度为π时磁场在X轴方向分量的大小，θ为内部线包轴线倾斜导致的磁场倾斜角，α为霍尔片探头与X轴夹角，β为霍尔片探头与Y轴夹角，为霍尔片探头角向转动角； 对均匀区处的磁场进行测试时，假设霍尔片探头和超导磁体在Z轴平行，所以： Bz≈B0cosθ3其中Bz值为高斯计上Gz的读数； 为了减小式1、式2中未知量的数目，将两个径向位置相差π的Gx值进行求和，推导出式4： Gx+Gx:π＝2B0cosθcosα≈2Bzcosα4 因此，霍尔片探头和X轴之间的夹角α通过式5计算得到；同理，高斯计霍尔片探头和Y轴之间的夹角β通过式6计算得到； 其中Gy表示高斯计霍尔片探头在该轴向位置处的磁场在Y轴方向分量的大小；Gy:π表示旋转角度为π时磁场在Y轴方向分量的大小； 因此，在X轴方向上，高斯计测试误差为90°-α，在Y轴方向上，高斯计测试误差为90°-β； S2、求解超导磁体内部线包生产加工误差； 所述超导磁体内部线包生产加工误差包括轴线倾斜误差和轴向偏移误差； S2.1、求解轴线倾斜误差； 保持霍尔片探头的位置在磁场均匀区不变，霍尔片探头位置处的磁场在X轴方向分量的大小和内部线包轴线倾斜导致的磁场倾斜角的关系由式7表示： 同理，霍尔片探头位置处的磁场在Y轴方向分量的大小和内部线包轴线倾斜导致的磁场倾斜角的关系由式8表示： 将霍尔片探头和X、Y轴之间夹角都视为90°，所以： sinα≈sinβ≈19 将式9代入式7和式8，得到： 联立式3、式10和式11求解得到式12： 将高斯计上X、Y、Z方向磁场读数和α、β夹角代入式12求解得到磁场倾斜角θ； S2.2、轴向投影误差消除方法求解轴向偏移误差； 将霍尔片探头置于磁场上升区和均匀区，对磁体轴向偏移误差进行求解；均匀区高斯计读数和上升区高斯计读数分别表示为： 其中Bc和Gxc分别表示霍尔片探头在磁场上升区时该轴向位置处的磁场和磁场在X轴方向的分量，Bx-修正表示上升区径向偏移磁场在X轴方向分量；联立式13和式14，Bx-修正由式15求得；同理上升区径向偏移磁场在Y轴方向分量由式16求得； 其中By-修正表示上升区径向偏移磁场在Y轴方向分量，Gyc表示上升区磁场在Y轴方向的分量； 通过几何关系联立式15、式16求出上升区径向偏移磁场如式17所示；最后根据式18计算磁场轴向偏移误差： 其中Br-修正表示上升区径向偏移磁场，表示上升区径向偏移磁场的平均值，ΔR表示磁场的轴向偏移误差，R表示霍尔片探头的旋转半径； S3、磁场校准； 依据计算得到的磁场轴线倾斜误差值，使用高斯计对磁场均匀区的轴线倾斜误差进行校准；均匀区处的轴线倾斜误差校准完毕后，将霍尔片探头固定至磁场上升区校准轴向偏移误差；校准完毕磁场上升区处的轴向偏移误差后，再次返回均匀区进行磁场轴线倾斜测试和校准；反复测试并校准至误差在回旋行波管正常工作的允许范围内。

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