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龙图腾网获悉上海艾为电子技术股份有限公司申请的专利电容检测方法及电容检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115509396B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211321223.9，技术领域涉及：G06F3/044；该发明授权电容检测方法及电容检测装置是由程涛;高红玉设计研发完成，并于2022-10-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本电容检测方法及电容检测装置在说明书摘要公布了：本申请提供一种电容检测方法，用于电容检测装置，该方法包括：获取检测通道在第一环境状态中第一工作模式下的第一电容测量值和第二工作模式下的第二电容测量值；获取检测通道在第二环境状态中第一工作模式下的第三电容测量值和第二工作模式下的第四电容测量值；根据所获取的多个电容测量值之间的差值，确定检测通道与驱动通道之间电容的电容测量变化值和检测通道的电容测量变化值，确定补偿后的检测通道的电容测量值。采用上述技术方案，能够校正由于环境变化所引起的电容变化，从而确保电容检测精度，避免发生误判。本申请还提供一种电容检测装置。

本发明授权电容检测方法及电容检测装置在权利要求书中公布了：1.一种电容检测方法，用于电容检测装置，其特征在于，该方法包括： 获取检测通道在第一环境状态中第一工作模式下的第一电容测量值和第二工作模式下的第二电容测量值，其中，所述第一工作模式包括在所述检测通道通过激励电压信号对待检测电容进行电容检测时，在驱动通道上施加与所述检测通道一致的电压信号；所述第二工作模式包括在检测通道通过激励电压信号对所述待检测电容进行电容检测时，在驱动通道上施加接地电压信号；所述检测通道包括用于连接所述待检测电容与所述电容检测装置的走线，且所述驱动通道的一端与所述电容检测装置连接，另一端浮置； 获取所述检测通道在第二环境状态中所述第一工作模式下的第三电容测量值和所述第二工作模式下的第四电容测量值，其中，所述第二环境状态与所述第一环境状态的环境参数不同； 根据所述第二电容测量值与所述第一电容测量值之间的差值和所述第四电容测量值与所述第三电容测量值之间的差值，确定所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值； 根据所述第一电容测量值与所述第三电容测量值之间的差值，确定所述检测通道的电容测量变化值； 根据所述检测通道的电容测量变化值和所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值，确定补偿后的所述检测通道的电容测量值； 其中，根据所述检测通道的电容测量变化值和所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值，确定补偿后的所述检测通道的电容测量值，包括： 根据所述检测通道的电容测量变化值与所述检测通道与所述驱动通道之间电容的电容测量变化值的比值，确定补偿系数； 根据所述补偿系数，确定补偿后的所述检测通道的电容测量值。

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