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复旦大学;中山亚威光电科技有限公司张祥朝获国家专利权

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龙图腾网获悉复旦大学;中山亚威光电科技有限公司申请的专利一种基于光线约束的偏折系统一致性自标定方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116499396B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310261863.3,技术领域涉及:G01B11/25;该发明授权一种基于光线约束的偏折系统一致性自标定方法是由张祥朝;郎威;向炯榶;陈雨诺设计研发完成,并于2023-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于光线约束的偏折系统一致性自标定方法在说明书摘要公布了:本发明属于偏折测量技术领域,具体为一种基于光线约束的偏折测量系统一致性自标定方法。本发明将系统参数简化为屏幕坐标系下光线的方向及位置,对标准平面镜进行3次测量,对标准镜面的面形误差和屏幕的散焦虚像进行建模,根据光线直线传播原理,利用虚像对应点之间的共线约束建立系统的光线模型;然后对标准件面形进行测量,建立以测量误差和光线共线误差融合的代价函数对系统参数进行修正;最后通过多频高灵敏度编解码方法增强系统的灵敏度。本发明有效缩短了误差传递链条,将各环节刚性的标定参数进行了退火,增加了系统参数的柔性。

本发明授权一种基于光线约束的偏折系统一致性自标定方法在权利要求书中公布了:1.一种基于光线的约束偏折系统一致性自标定方法,其特征在于,具体步骤为: S1、搭建由相机和屏幕组成的偏折系统,将标准平面反射镜置于相机视野中,使得相机能够拍摄到经其反射的屏幕图案; 由于偏折测量系统中相机与屏幕置于同一侧,相机无法直接对屏幕进行成像,需要依靠反射镜辅助获取屏幕的虚像,以建立像方光线与屏幕的之间的联系; S2、对标准平面进行建模,包括建模为面形、法向、曲率; S3、通过在屏幕上投影一系列横、纵条纹,由相机拍摄经过标准平面反射的条纹图案,以建立相机与屏幕像素之间的对应关系; 具体地,在屏幕上依次显示横纵两个方向的多频四步相移条纹,并通过相机拍摄经过标准平面反射的条纹图案;利用四步相移算法分别获得多个条纹频率的截断相位,然后通过截断相位相加求得更高频率的截断相位φ 1,通过截断相位相减获得更低频率的截断相位φ 2,最后以φ 2指导φ 1进行相位展开,获得高灵敏度的相位图,进而以相位值为桥梁建立相机与屏幕像素之间的对应关系; S4、利用S3,分别对不共面且不平行的3个位姿下的标准平面镜进行测量,获取相机像素分别在3个标准件位姿下对应的屏幕像素; S5、通过预标定获取3个标准平面镜在屏幕坐标系下的初始位姿; S6、根据S5预标定的系统参数和S2标准平面的建模结果,对屏幕的散焦虚像进行建模; 具体地,根据S5获取初始光线模型,通过光线追迹获得光线与标准平面的交点,根据追迹光线的方向及该点法向,获得对应虚像点所处的方位信息,进而根据高斯成像公式获得像距,确定对应的虚像点;交点的法向及曲率信息由S2获得,重复以上步骤,依次完成3个标准件位姿下的屏幕虚像建模; S7、根据光线直线传播原理,利用同一相机像素对应的三个虚像点共线,建立系统的光线模型,并记录共线误差; S8、根据系统光线模型对3个位姿下的标准件进行测量,并记录相对于S2建模结果的偏差; S9、融合光线系统模型标定中的共线误差以及测量中的面形偏差,建立代价函数; S10、以代价函数反向优化标准件相对于屏幕的位姿,进而得到优化系统光线方向;重复S5-S10,直到代价函数达到最小。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人复旦大学;中山亚威光电科技有限公司,其通讯地址为:200433 上海市杨浦区邯郸路220号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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