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龙图腾网获悉清华大学申请的专利测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118883599B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410885211.1，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置是由于荣;崔吉哲;杨文峰设计研发完成，并于2024-07-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置在说明书摘要公布了：本发明涉及叠层衍射成像技术领域，特别涉及一种测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置，其中，方法包括：采用目标粒子束对样品进行扫描，获得实验衍射数据集；参数化初始照明粒子源函数和物函数，获得初始化后的照明粒子源函数、初始化后的物函数和待优化参数；基于叠层成像技术中正向传播过程，利用初始化后的照明粒子源函数和初始化后的物函数计算目标样品的模拟衍射数据集；根据模拟衍射数据集和实验衍射数据集对待优化参数进行优化，获得目标样品的自旋分布。由此，解决了传统叠层成像方法没有考虑自旋密度或磁矢势在出射波中表现出的特殊相位结构，造成自旋分布无法精确测量的问题。

本发明授权测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种测量物质中自旋分布的叠层成像方法，其特征在于，包括以下步骤： 采用目标粒子束对目标样品进行扫描，获得实验衍射数据集； 使用待优化参数初始照明粒子源函数和物函数，获得初始化后的照明粒子源函数和初始化后的物函数，其中，所述初始化后的物函数包括电荷函数和自旋函数，所述待优化参数包括粒子源函数的参数、电荷函数的参数和自旋函数的参数； 基于叠层成像技术中正向传播过程，利用所述初始化后的照明粒子源函数和所述初始化后的物函数计算所述目标样品的模拟衍射数据集，其中，具体包括： 获取所述电荷函数的多个物体静电势函数片层； 将所述自旋函数的总磁矢势划分成多个片层，并提取每个片层的磁矢势的沿着粒子源函数的分量； 利用所述多个物体静电势函数片层和所述每个片层的磁矢势的沿着粒子源函数的分量计算所述目标样品中每个片层的透射函数； 利用所述粒子源函数和所述每个片层的透射函数计算处射波函数，以根据所述处射波函数获取所述模拟衍射数据集； 根据所述模拟衍射数据集和所述实验衍射数据集对所述待优化参数进行优化，获得所述目标样品的自旋分布。

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