杭州长川科技股份有限公司吴炳龙获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州长川科技股份有限公司申请的专利开关复用的半导体测试设备及测试系统获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223022312U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421584900.0,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型开关复用的半导体测试设备及测试系统是由吴炳龙;胡刚;袁晓航;胡松德;李天平设计研发完成,并于2024-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本开关复用的半导体测试设备及测试系统在说明书摘要公布了:本申请涉及芯片测试领域,特别是涉及一种开关复用的半导体测试设备及测试系统。该设备包括数字控制环路、多个业务板卡以及逻辑复用开关模块,各业务板卡包括业务功能模块以及与业务功能模块连接的切换开关模块,各业务功能模块连接数字控制环路,各切换开关模块连接逻辑复用开关模块,逻辑复用开关模块连接被测器件;其中,数字控制环路输出控制信号至逻辑复用开关模块及各切换开关模块,控制多个业务板卡中的至少一个接入,与数字控制环路、被测器件构成至少一个测试环路。本申请利用逻辑复用开关模块可实现测试通道的复用,以解决由于测试通道的数量限制,而无法满足更多场景的测试需求的技术问题。
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