武汉普赛斯仪表有限公司王承获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉普赛斯仪表有限公司申请的专利一种芯片测试冶具获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223022315U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421750226.9,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型一种芯片测试冶具是由王承;胡银超;周琪;尹中南设计研发完成,并于2024-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试冶具在说明书摘要公布了:本实用新型涉及芯片测试冶具技术领域,公开了一种芯片测试冶具,包括第一测试组件及第二测试组件,第一测试组件包括第一固定件及用于测试芯片的测试部,第一固定件开设有气道,测试部连接第一固定件;第二测试组件包括第二固定件及电极,第二固定件与第一固定件可拆卸连接,电极连接第二固定件,且设置有吸附面及贯穿吸附面的流道,吸附面、第二固定件及第一固定件合围形成有容纳芯片的测试腔,测试腔与气道及流道相连通。本实用新型中的芯片测试冶具在对芯片进行测试时,能够解决芯片测试时高压击穿漏电的问题。
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