上海埃德电子股份有限公司金光远获国家专利权
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龙图腾网获悉上海埃德电子股份有限公司申请的专利一种特定板间连接结构的双PXIe接口25G以太网仿真测试卡获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223023720U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421998851.5，技术领域涉及：H01R13/629；该实用新型一种特定板间连接结构的双PXIe接口25G以太网仿真测试卡是由金光远;朱鑫康;林兵设计研发完成，并于2024-08-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种特定板间连接结构的双PXIe接口25G以太网仿真测试卡在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种特定板间连接结构的双PXIe接口25G以太网仿真测试卡，其特征在于，FPGA及其附属功能器件布置于上层PCB板上，D20008工业版CPU及其附属功能器件布置于下层PCB板上，上层板间连接器与下层板间连接器相互插接后实现FPGA及其附属功能器件与D20008工业版CPU及其附属功能器件的电气连接。本实用新型采用上下两层板卡结构设计的25G以太网仿真测试板卡的解决方案，将原先大面积单个25G以太网仿真测试板卡转换为采用上下两层结构的25G以太网仿真测试板卡，并采用所述的特定板间连接器实现对上层FPGA板卡与下层D20008板卡的电气连接。
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