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龙图腾网获悉深圳市宏盛通光电有限公司申请的专利液晶屏坏点检测方法、检测装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119068787B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411256394.7，技术领域涉及：G09G3/00；该发明授权液晶屏坏点检测方法、检测装置及存储介质是由艾冬设计研发完成，并于2024-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本液晶屏坏点检测方法、检测装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及液晶屏检测技术领域，特别是一种液晶屏坏点检测方法、装置及存储介质。基于预设测试方案控制测试设备对目标液晶屏进行测试，获取目标液晶屏的屏幕特性图像，根据屏幕特性图像构建目标液晶屏的实际梯度值矩阵；根据目标液晶屏的实际梯度值矩阵与标准梯度值矩阵对目标液晶屏进行坏点位置分析，得到屏幕特性图像中坏点位置区域；对屏幕特性图像进行分割处理，得到目标液晶屏中坏点位置区域所对应的子特性图像；基于坏点特征知识树图概网络对各子特性图像进行特征分析，得到目标液晶屏中所有坏点位置区域的坏点名称与坏点诱因，通过本方法能够实现对目标液晶屏的全面、准确的坏点检测，提高了检测效率和准确性。

本发明授权液晶屏坏点检测方法、检测装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，包括：根据预设测试方案确定出在对目标液晶屏进行测试时目标液晶屏中各个像素点所对应的标准梯度值，生成目标液晶屏的标准梯度值矩阵；基于预设测试方案控制测试设备对目标液晶屏进行测试，获取目标液晶屏的屏幕特性图像，构建目标液晶屏的实际梯度值矩阵；根据目标液晶屏的实际梯度值矩阵与标准梯度值矩阵对目标液晶屏进行坏点位置分析，得到屏幕特性图像中的一个或多个坏点位置区域，具体为：计算目标液晶屏中实际梯度值矩阵与标准梯度值矩阵在各个相同矩阵位置上两元素之间的绝对差值；根据实际梯度值矩阵与标准梯度值矩阵在各个相同矩阵位置上两元素之间的绝对差值构建一个绝对差值矩阵；获取目标液晶屏的工艺精度要求信息，根据工艺精度要求信息预设极限差值阈值；将绝对差值矩阵中的各个绝对差值与极限差值阈值进行比较；若绝对差值矩阵中存在一个或以上的绝对差值大于极限差值阈值，则在实际梯度值矩阵中标记出绝对差值大于极限差值阈值的元素位置节点，定义为坏点位置，将标记的坏点位置对标在屏幕特性图像中；获取屏幕特性图像中所有被对标为坏点位置的独立封闭区域，得到屏幕特性图像中的坏点位置区域；基于分水岭算法对屏幕特性图像进行分割处理，得到目标液晶屏中坏点位置区域所对应的子特性图像；基于坏点特征知识树图概网络对各子特性图像进行特征分析，得到目标液晶屏中所有坏点位置区域的坏点名称与坏点诱因并上传至检测数据库。

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