纳光电(太原)研究院有限公司郭雯获国家专利权
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龙图腾网获悉纳光电(太原)研究院有限公司申请的专利一种用于检测封装密度的装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223005509U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422251374.2，技术领域涉及：G01B11/30；该实用新型一种用于检测封装密度的装置是由郭雯;刘晨琦;薛连花设计研发完成，并于2024-09-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于检测封装密度的装置在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种用于检测封装密度的装置，涉及芯片封装检测技术领域，包括旋转机构，所述旋转机构的顶部设置有检测机构。本实用新型中，使用时，依据芯片封装厚度参数，电推杆会带动升降台升降到合适高度，让激光束贴合芯片封装顶部，矩阵式激光发射器发射激光束，矩阵式激光接收器接收光信号并转化为电信号发送给外部PLC控制器分析处理，并且，通过电机、驱动齿轮和齿轮转盘相配合起到带动芯片封装进行边旋转边检测的效果，根据信号接收情况就能检测出芯片封装顶部平面的平整度，整体来看，该装置结构简单，自动化程度高，有效地解决了人工肉眼检测的弊端，如费时费力、检测结果精确度难以保证等问题。
本实用新型一种用于检测封装密度的装置在权利要求书中公布了：1.一种用于检测封装密度的装置，包括旋转机构1，其特征在于：所述旋转机构1的顶部设置有检测机构2；所述检测机构2包括升降台201，所述升降台201的底部靠近四个拐角的位置均安装有电推杆202，所述升降台201的底部靠近前侧边缘处安装有矩阵式激光发射器203，所述升降台201的底部靠近后侧边缘处安装有矩阵式激光接收器204，所述矩阵式激光发射器203和矩阵式激光接收器204相配合，所述升降台201的顶部中心处呈镂空设置。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人纳光电(太原)研究院有限公司，其通讯地址为：030000 山西省太原市小店区南内环街16号1号办公楼2层203室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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