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龙图腾网获悉扬州西谷航测检测技术服务有限公司申请的专利一种低功耗芯片的漏电流测试分析方法及平台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119375766B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411627312.5，技术领域涉及：G01R31/52；该发明授权一种低功耗芯片的漏电流测试分析方法及平台是由杨国牛;苗涛涛;毛雪;陆翰雯;虞帆;叶辉;池海娥;纪旭娇;刁志舟设计研发完成，并于2024-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种低功耗芯片的漏电流测试分析方法及平台在说明书摘要公布了：本发明公开了一种低功耗芯片的漏电流测试分析方法及平台，属于半导体测试领域，其中方法包括：采集目标低功耗芯片的芯片特征数据确定目标低功耗芯片的多个环境参数测试范围和工作电压测试范围；生成环境测试序列、电压测试序列，组合环境测试序列和电压测试序列，生成自适应测试方案；基于自适应测试方案构建漏电流数据矩阵；获取第一分析结果；获取第二分析结果；基于第一分析结果和第二分析结果获取目标低功耗芯片的漏电流特性评估结果。本申请解决了现有技术中漏电流测试条件单一、难以全面评估低功耗芯片在多环境参数和电压条件下特性，从而导致测试结果准确性和适用性不足的技术问题。

本发明授权一种低功耗芯片的漏电流测试分析方法及平台在权利要求书中公布了：1.一种低功耗芯片的漏电流测试分析方法，其特征在于，包括：采集目标低功耗芯片的芯片特征数据，根据所述芯片特征数据确定目标低功耗芯片的多个环境参数测试范围和工作电压测试范围，其中，多个环境参数测试范围包括温度测试范围、湿度测试范围和电磁干扰测试范围；根据所述多个环境参数测试范围生成环境测试序列，并根据所述工作电压测试范围生成电压测试序列，组合所述环境测试序列和所述电压测试序列，生成自适应测试方案；基于所述自适应测试方案，设定环境参数和施加工作电压，通过电流传感器获取目标低功耗芯片的漏电流测试数据，并将所述漏电流测试数据构建漏电流数据矩阵；依次提取所述漏电流数据矩阵的行向量数据，分析相同环境参数条件下的电压－漏电流特性，获取第一分析结果；依次提取所述漏电流数据矩阵的列向量数据，分析相同工作电压条件下的环境－漏电流特性，获取第二分析结果；基于所述第一分析结果和所述第二分析结果对所述目标低功耗芯片进行关联评估，获取所述目标低功耗芯片的漏电流特性评估结果；其中，根据所述多个环境参数测试范围生成环境测试序列，并根据所述工作电压测试范围生成电压测试序列，组合所述环境测试序列和所述电压测试序列，生成自适应测试方案，包括：将所述温度测试范围按照温度步长划分为多个温度测试点，将所述湿度测试范围按照湿度步长划分为多个湿度测试点，将所述电磁干扰测试范围按照电磁干扰步长划分为多个电磁干扰测试点；对多个温度测试点、多个湿度测试点和多个电磁干扰测试点进行排列组合，生成环境参数组合集；基于预设环境参数组合约束对所述环境参数组合集进行筛选，得到有效环境参数组合集，生成所述环境测试序列，其中，所述环境参数组合约束是基于物理规律、实际应用场景和芯片特征数据设置的组合限制条件；将所述工作电压测试范围按照电压步长划分为多个电压测试点，按照由小到大的顺序生成所述电压测试序列；将所述环境测试序列和所述电压测试序列按照矩阵形式进行组合，生成所述自适应测试方案；其中，基于所述第一分析结果和所述第二分析结果对所述目标低功耗芯片进行关联评估，获取所述目标低功耗芯片的漏电流特性评估结果，包括：基于目标低功耗芯片的应用场景，获取电压变化情况和环境变化情况，其中，所述电压变化情况表征应用场景中电压的波动程度，所述环境变化情况表征应用场景中环境的波动程度；根据所述电压变化情况确定第一权重系数，根据所述环境变化情况确定第二权重系数；将所述第一分析结果和所述第一权重系数进行加权计算，得到电压维度评估分数；将所述第二分析结果和所述第二权重系数进行加权计算，得到环境维度评估分数；根据所述电压维度评估分数和所述环境维度评估分数生成所述目标低功耗芯片的漏电流特性评估结果。

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