电子科技大学张琼获国家专利权
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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利基于质量衰减系数函数的计算地层密度方法、系统、终端及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119471838B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411645398.4，技术领域涉及：G01V5/10；该发明授权基于质量衰减系数函数的计算地层密度方法、系统、终端及介质是由张琼;陈均燕;谢昱北设计研发完成，并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于质量衰减系数函数的计算地层密度方法、系统、终端及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了基于质量衰减系数函数的计算地层密度方法、系统、终端及介质，属于测井技术领域，具体地：基于脉冲中子伽马密度测井仪，构建地层密度计算模型；通过数值模拟，建立刻度系数库，包含不同岩性地层对应的刻度系数；识别待测地层岩性，在刻度系数库中匹配得到待测地层岩性对应的刻度系数；通过脉冲中子伽马密度测井仪测量待测地层，再根据地层密度计算模型和刻度系数计算得到地层密度。本发明可更加准确地计算不同岩性地层的密度，满足实测井的需求，绝对误差控制在合理范围内。
本发明授权基于质量衰减系数函数的计算地层密度方法、系统、终端及介质在权利要求书中公布了：1.基于质量衰减系数函数的计算地层密度方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、基于脉冲中子伽马密度测井仪，构建地层密度计算模型，公式为： 式中，ρ为地层密度；Rinγ为近源距非弹性散射伽马计数与远源距非弹性散射伽马计数的比值；RETN为近源距超热中子计数与远源距超热中子计数的比值；Nlith为近源距非弹伽马特定能量窗内计数；A、a0、a1、a2、b、c和d均为刻度系数；分母即为质量衰减系数函数；步骤2、通过数值模拟，建立刻度系数库，包含不同岩性地层对应的刻度系数；步骤3、识别待测地层岩性，在刻度系数库中匹配得到待测地层岩性对应的刻度系数；步骤4、通过脉冲中子伽马密度测井仪，测量得到待测地层的近源距超热中子计数、远源距超热中子计数、近源距非弹性散射伽马计数、远源距非弹性散射伽马计数以及近源距非弹伽马特定能窗内计数，进而根据地层密度计算模型，以及待测地层岩性对应的刻度系数，计算得到待测地层的密度ρ。
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