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龙图腾网获悉北京智芯微电子科技有限公司;北京智芯半导体科技有限公司申请的专利基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117269716B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310961952.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法是由牛长胜;解卫华;姜帆;白雪松;付利莉;王祥;王文赫;杜君;孙韬;丁娴;聂睿;王海宝设计研发完成，并于2023-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明实施例提供一种基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法，属于磁传感芯片测试技术领域。所述装置包括：MCU单元，以及与MCU单元连接的被测芯片多方向单元、芯片电源单元、控制单元和测量单元。所述装置增加了被测磁传感芯片的样本数量，能够为多颗被测磁传感芯片提供不同的测试方向，实现了磁传感芯片的多个不同方向的同时测试，减少了改变磁传感芯片方向的次数以及变换线圈方向的次数，同时减少了测试组件体积，提高了测试的效率和对磁传感芯片性能评估的完整性。

本发明授权基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于MCU的磁传感芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：MCU单元，以及与MCU单元连接的被测芯片多方向单元、芯片电源单元、控制单元和测量单元； 所述被测芯片多方向单元用于固定第一预设数量的被测磁传感芯片，以及为所述被测磁传感芯片提供不同的测试方向，所述被测芯片多方向单元包括互相垂直的第一PCB板、第二PCB板和第三PCB板，第三PCB板为旋转平面，每个PCB板上均能够固定第二预设数量的被测磁传感芯片，且第一PCB板和第二PCB板上分别固定不同测试方向的被测磁传感芯片； 所述芯片电源单元用于为所述被测磁传感芯片提供可调节电压； 所述控制单元用于根据MCU单元的测试控制指令控制测试时的磁场强度及磁场方向； 所述测量单元用于在测试过程中测量预设工作电压下被测磁传感芯片在不同磁场强度及不同磁场方向下的测量数据；其中，所述测量数据包括：实际测量工作点和实际测量释放点； 所述MCU单元用于根据预设测试参数和所述测量数据，确定每一被测磁传感芯片在不同磁场强度及不同磁场方向下的检测结果； 所述控制单元包括：磁场激励控制模块和角度控制模块； 所述磁场激励控制模块与亥姆霍兹线圈连接，用于以预先设置的磁场增大步进或磁场减小步进，控制测试时被测磁传感芯片所处的磁场强度； 所述角度控制模块与步进电机连接，用于以预先设置的步进角度，控制测试时被测磁传感芯片所处的磁场方向。

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