深圳市晶封半导体有限公司罗锡彦获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市晶封半导体有限公司申请的专利一种Nand Flash储存芯片测试治具获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222995102U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421540501.4,技术领域涉及:G11C29/56;该实用新型一种Nand Flash储存芯片测试治具是由罗锡彦;唐明星;罗涛设计研发完成,并于2024-07-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种Nand Flash储存芯片测试治具在说明书摘要公布了:本实用新型提出了一种NandFlash储存芯片测试治具,属于技术领域。所述NandFlash储存芯片测试治具,包括设备主体、连接槽以及按压板,其中,设备主体内部开设有检测槽,检测槽内部固定连接有检测触点,设备主体内部开设有活动槽,设备主体外部固定连接有连接基座,活动槽内部活动连接有齿槽带,连接槽固定连接在齿槽带外部,连接基座外部活动连接有外层齿套,外层齿套内部活动连接有中心转轴,中心转轴外部固定连接有延伸板,按压板活动连接在延伸板外部,安置板外部活动连接有NandFlash芯片,NandFlash芯片外部固定连接有针脚。本实用新型具有可以将针脚与检测触点相互定位,可以将NandFlash芯片垂直装取等优点。
本实用新型一种Nand Flash储存芯片测试治具在权利要求书中公布了:1.一种NandFlash储存芯片测试治具,其特征在于,包括设备主体1、连接槽9以及按压板19,其中,所述设备主体1内部开设有检测槽2,所述检测槽2内部固定连接有检测触点4,所述设备主体1内部开设有活动槽3,所述设备主体1外部固定连接有连接基座5,所述活动槽3内部活动连接有齿槽带7,所述连接槽9固定连接在齿槽带7外部,所述连接基座5外部活动连接有外层齿套12,所述外层齿套12内部活动连接有中心转轴10,所述中心转轴10外部固定连接有延伸板14,所述按压板19活动连接在延伸板14外部,所述检测槽2内部活动连接有NandFlash芯片17,所述NandFlash芯片17外部固定连接有针脚18,所述检测槽2内部活动连接有安置板8。
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